標準號：GB/T12085.6-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵，規(guī)定了砂塵試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。砂塵試驗箱適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件等，試驗目的是研究試樣的光學、熱學、機械學、化學和電學等特性受到砂塵影響的變化程度，特別是研究運動部件（如滑動面、軸承、接觸器、控制裝置、齒輪）的故障或不能允許的表面磨損。注意，本試驗不用來確定對粗粒砂塵的耐磨性。
標準中明確講述了文件條款通過GT/T12085部分的引用而成為本部分的條款，凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。GB/T12085.1 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第一部分：術語、試驗范圍（GB/T 12085.1—2010，ISO 9022-1:1994，MOD） |
